峰位
峰位由图谱横坐标的衍射角度（2θ）表示，单位是度（°）。
衍射角度反映了样品中晶格参数的大小和晶体结构。
通过比较实测样品和标准谱图的2θ值，可以定性分析晶胞是否膨胀或收缩。
峰高
峰高由图谱纵坐标表示，可以是Counts（计数）、cps（counts per sec，记数/秒）或intensity（a.u.）。
不同衍射峰对应不同的晶面。
峰高反映了晶体取向的信息。
如果样品同时存在晶体和非晶体，不同XRD图像同一位点可能会有不同的峰高。
峰宽
峰宽通常由半高宽（FWHM，Full Width at Half Maximum）表示，反映了晶粒的大小。
峰窄通常表示晶粒较大，可以使用谢乐公式（Scherrer's formula）计算晶粒尺寸。
面积
峰面积表示晶体含量，面积越大，晶相含量越高。
结晶度
结晶度可以通过峰的尖锐程度来分析，峰越尖锐，结晶度越好。
信噪比
信噪比越高，说明XRD图拍摄得越好，越精确。
物相分析
对于已知物质，可以通过将XRD图谱与标准图进行比对来进行物相分析。
对于未知物质，可能需要使用专业软件如PowderX等进行处理和分析。
晶系和晶胞参数
XRD图谱可以提供晶体所属晶系和晶胞参数的信息。
定量分析
可以通过分析图谱中各峰的相对强度来进行定量分析。
择优取向
如果XRD图谱中某一峰相对于其他峰明显高出许多，可能表明材料在该方向上有择优取向。
分析XRD图谱时，还可以参考标准XRD图谱数据库（如JCPDs）进行检索，以及使用专业软件如MDI Jade进行计算机辅助检索。